Краткое описание: |
Для измерения геометрических параметров структур различного рода материалов, в том числе металлографических образцов, металлических образцов, залитых в искусственные материалы, исследуемая поверхность которых отполирована и подвергнута травлению. Область применения - металлургическая промышленность, машиностроение, микроэлектроника.
Увеличение объектива микроскопа, крат 1,25...100. Диапазоны измерения линейных размеров в зависимости от увеличения, мкм 4...10240...0,0625...160. |
|