Тип:

ОЭСИ

Наименование:

Система измерений геометрических параметров оптоэлектронная

Краткое описание:

Для измерений линейных размеров по 3-м координатам и параметров микрогеометрии поверхностей деталей (отклонения от плоскостности поверхности, шероховатости поверхности). Применяется при производстве элементов микромеханики, робототехники, точного машиностроения и приборостроения в различных областях науки и техники. Диапазоны измерений линейных размеров, мм: по координатам X, Y 2...200, по координате Z 2...50. Погрешность +-1 мкм.

Проспект:

отсутствует