Краткое описание: |
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагмированного на кристаллическом объекте, для решения задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных институтов в различных отраслях науки и производства (материаловедение, черная и цветная металлургия, машиностроение, минералогия, кристаллография, химия, фармакология, криминалистика и другие). |
|