Краткое описание: |
Для экспресс-анализа элементного состава различных объектов: произведений искусства, ювелирных изделий, покрытий, пород, почв, порошков, металлов и сплавов и т.д. в геологии, экологии, криминалистике, химической, электронной, металлургической и других отраслях промышленности, а также научных исследованиях. Диапазон определяемых элементов Si (14)-HJ(92). |
|