Краткое описание: |
Для измерения линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении и анализа микроструктуры объектов в химии, биологии, металлургии, физике твердого тела, материаловедении, геологии и других отраслях науки и техники. Диапазон измерений, мкм от 0,005 до 1000; от 0,001 до 1000. Погрешность ?0,01 мкм. |
|