Краткое описание: |
Спецраздел. Для проведения функционального и параметрического контроля микросхем с числом выводов до 256 на пластине и в корпусах с рабочей частотой последовательности функционального контроля до 10 МГц; тестеры применяются для выходного контроля параметров и правильности функционирования БИС при их разработке и производстве, а также для входного контроля качества БИС, используемых в радиотехнической аппаратуре, вычислительной технике, АСУ объектов сферы обороны, безопасности и промышленности. Диапазон выдаваемых и измеряемых напряжений постоянного тока, В: высокий уровень от минус 2,0 до 4,0; низкий уровень от минус 4,0 до 2,0. |
|